-
在线镀层测厚仪
仪器简介:不论是在国外还是国内,赛默飞世尔(Thermofisher)公司的测厚仪市场占有率始终遥遥领先。RM310系列镀层重量测厚仪凭借其出色的设计,先进的射线荧光技术,精确的测量,极高的稳定
-
M1 MISTRAL镀层测厚仪
用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析 M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)-92号(铀)中的元素
-
X荧光镀层测厚仪
-
布鲁克镀层测厚仪M1 MISTRAL AgCu镀层厚度分析
布鲁克镀层测厚仪M1 MISTRAL用于测定Ag引线、Cu引线,符合行业标准 ISO3497、ASTMB568。适用 Ag/Cu镀层厚度分析 项目。 用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析
-
X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
-
X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
-
天瑞仪器 电镀行业 X荧光镀层测厚仪
-
天瑞仪器 金属镀层的厚度测量 X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
-
X射线荧光测厚M1 MISTRAL镀层测厚仪 Au-Ni/Cu镀层分析
布鲁克X射线荧光测厚M1 MISTRAL可以用在多个行业领域,用来检测Ni-Cu镀层 ,可完成Au-Ni/Cu镀层分析 项目。符合多项行业标准ISO3497、ASTMB568以及DIN50987
-
天瑞仪器Thick800AX荧光镀层测厚仪
技术指标型号:Thick800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9%。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net